PCT高压加速寿命老化箱(HAST电子器件高加速老化试

HAST电子器件高加速老化试验箱内部资料分享

一、什么是HAST高加速老化试验箱：

高加速老化测试，Highly Aelerated StressTest

二、HAST高加速老化试验箱的用途

HAST用来评估电子元器件在潮湿环境中的可靠性能，通过模拟严酷的温度、高湿度，提高水汽压力，使得包封料或密封料渗透分层，或沿着外部保护材料和金属导体介面的渗透，导致样品失效。

三、制造厂商：东莞市环仪仪器科技有限公司

四、HAST常用测试条件

HAST高加速老化试验箱加速测试条件，与85°C高温、85％RH高湿测试条件而言，HAST更加容易产生水分湿气，从而导致产品或器件腐蚀、绝缘劣化，较为快速发现产品设计故障。

芯片常用测试条件：110℃，85%RH，264小时

五、HAST澡分曲线

澡盆曲线（Bathtub curve、失效时期），又用称为浴缸曲线、微笑曲线，主要是显示产品的于不同时期的失效率，主要包含早夭期（早期失效期）、正常期（随机失效期）、损耗期（退化失效期），以环境试验的可靠度试验箱来说得话，可以分爲筛选试验、加速寿命试验（耐久性试验）及失效率试验等。进行可靠性试验时"试验设计"、"试验执行"及"试验分析"应作爲一个整体来综合考虑。

六、HAST高加速老化试验箱结构

试验箱由一个压力容器组成，压力容器包括一个能産生100%（润湿）环境的水加热器，待测品经过PINDAR品达环试PCT试验所出现的不同失效可能是大量水气凝结渗透所造成的。

七、为什么要做HAST试验呢？

环境应力造成电子产品故障的比例来说，高度占2%、盐雾占4%、沙尘占6%、振动占28%、而温湿度去占了高达60%，所以电子产品对于温湿度的影响特别显著，但由于传统高温高湿试验（如：40℃/90%R.H.、85℃/85%R.H.、60℃/95%R.H.）所需的时间较长，为了加速材料的吸湿速率以及缩短试验时间，可使用加速试验设备（HAST高加速老化试验箱、PCT）来进行相关试验，也就所谓的（退化失效期、损耗期）试验

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